元器件检测标准时间：2022-12-27      阅读：

GB/T 15298-1994《电子设备用电位器 第一部分:总规范》

GB/T 5729-2003《电子设备用固定电阻器 第1部分:总规范》
GB/T 10193-1997《电子设备用压敏电阻器 第1部分:总规范》
GB/T 2693-2001《电子设备用固定电容器 第1部分:总规范》
GB/T 14860.1-2012《电子和通信设备用变压器和电感器 第1部分：通用规范》
GB/T 11313.1-2013《射频连接器 第1部分:总规范 一般要求和试验方法》
GB/T 14114-1993《半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理》
GB/T 14115-1993《半导体集成电路 采样保持放大器测试方法的基本原理》
SJ 20961-2006《集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理》
GB/T 15651.3-2003《半导体器件 分立器件和集成电路 第5部分：光电子器件》
GB/T 4587-1994《半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极性晶体管》
GB/T 4586-1994《半导体分立器件和集成电路 第8部分：场效应晶体管》
GB/T14121-1993《电子设备用固定电容器第3部分：分规范：片状钽固定电容器》
GB/T 5729-2003《电子设备用固定电阻器 第1部分：总规范》
GB/T 2693-2001《电子设备用固定电容器 第1部分：总规范》
GB/T 16512-1996《抑制射频干扰固定电感器 第一部分 总规范》
GJB1864A-2011《射频固定和可变片式电感器通用规范》
GJB5025-2003《射频固定和可变电感器通用规范》
GB/T17574-1998《半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路》
GB/T 6798-1996《半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理》
GB/T 15136-1994《半导体集成电路 石英钟表电路测试方法的基本原理》
GB/T17940-2000《半导体集成电路 第3部分 模拟集成电路》
GB/T 14029-1992《半导体集成电路 模拟乘法器测试方法的基本原理》
GB/T 14028-1992《半导体集成电路 模拟开关测试方法的基本原理》
GB/T 14030-1992《半导体集成电路 时基电路测试方法的基本原理》
GJB548B-2005《微电子器件试验方法和程序》
GJB128A-1997《半导体分立器件试验方法》
GJB 360B-2009《电子及电气元件试验方法》